Intelligent Electronics & Metrology

ISSN:3136-862X
Founded: 2026 | Quarterly Open Access Journal
Editor-in-Chief: Prof. Xufeng Jing
Editorial Board

征稿(Call for Papers in Chinese)

该期刊依托中国计量大学,创刊于2026年,为季度出版(Quarterly)的开放获取国际英文学术期刊(免出版费),由中国计量大学信息工程学院井绪峰教授担任创刊主编。 

为促进智能电子、光电工程、精密计量、先进传感、人工智能与物理科学等领域的学术交流与交叉融合,国际学术期刊 Intelligent Electronics & Metrology(IEM) 现面向全球科研人员广泛征集高水平原创研究成果和综述论文。期刊关注基础理论、关键技术、创新器件、智能算法以及工程应用等方面的最新研究进展,致力于搭建智能电子与现代计量交叉领域具有国际影响力的学术交流平台。

投稿网址:https://www.iemjournal.net 

投稿、论文出版及学术合作等相关问题,可联系主编井绪峰教授:E-mail:jingxufeng@cjlu.edu.cn

发送邮件时建议在邮件主题中注明 “IEM” 以及咨询事项. 我们诚挚欢迎全球专家学者向 Intelligent Electronics & Metrology 投稿最新研究成果。

by IEM @ 20261104